翻訳は機械翻訳により提供されています。提供された翻訳内容と英語版の間で齟齬、不一致または矛盾がある場合、英語版が優先します。
OEE で計算する AWS IoT SiteWise
このチュートリアルでは、承認プロセスの全体的な機器の有効性 (OEE) を計算する方法の例を示します。その結果、OEE計算や計算式はここに示すものと異なる場合があります。一般に、 OEEは として定義されますAvailability * Quality * Performance
。の計算の詳細についてはOEE、Wikipedia の「総合設備効率
前提条件
このチュートリアルを完了するには、次の 3 つのデータストリームを持つデバイスのデータ取り込みを設定する必要があります。
-
Equipment_State
- アイドル、障害、計画された停止、通常の稼働など、マシンの状態を表す数値コード。 -
Good_Count
- 最後のデータポイント以降に成功した操作の数が各データポイントに含まれているデータストリーム。 -
Bad_Count
- 最後のデータポイント以降に失敗した操作の数が各データポイントに含まれているデータストリーム。
データ取り込みを設定するには、「へのデータの取り込み AWS IoT SiteWise」を参照してください。使用可能な産業オペレーションがない場合は、 を介してサンプルデータを生成してアップロードするスクリプトを AWS IoT SiteWise 記述できますAPI。
の計算方法 OEE
このチュートリアルでは、、、 Equipment_State
Good_Count
の 3 つのデータ入力ストリームOEEから を計算するアセットモデルを作成しますBad_Count
。この例では、砂糖、ポテトチップス、またはペンキなどの包装に使用される汎用包装機器を考えてみます。AWS IoT SiteWise コンソール
包装機器からの生データストリームを表すために、次の測定を定義します。
測定
-
Equipment_State
- 数値コードで包装機器の現在の状態を提供するデータストリーム (または測定)。-
1024
- マシンはアイドル状態です。 -
1020
- エラーや遅延などの障害。 -
1000
- 計画された停止。 -
1111
- 通常のオペレーション。
-
-
Good_Count
- 最後のデータポイント以降に成功した操作の数が各データポイントに含まれているデータストリーム。 -
Bad_Count
- 最後のデータポイント以降に失敗した操作の数が各データポイントに含まれているデータストリーム。
Equipment_State
測定値データストリームとそれに含まれるコードを使用して、次の変換 (または派生の測定値) を定義できます 変換は raw 測定値と one-to-one 関係があります。
変換
-
Idle = eq(Equipment_State, 1024)
- マシンのアイドル状態を含む変換されたデータストリーム。 -
Fault = eq(Equipment_State, 1020)
- マシンの故障状態を含む変換されたデータストリーム。 -
Stop = eq(Equipment_State, 1000)
- マシンの計画された停止状態を含む変換されたデータストリーム。 -
Running = eq(Equipment_State, 1111)
- マシンの通常の動作状態を含む変換されたデータストリーム。
生の測定値と変換された測定値を使用して、指定した時間間隔でマシンデータを集計する次のメトリクスを定義します。このセクションでメトリクスを定義するときは、各メトリクスに同じ時間間隔を選択します。
メトリクス
-
Successes = sum(Good_Count)
- 指定した時間間隔に正常に包装されたパッケージの数。 -
Failures = sum(Bad_Count)
指定した時間間隔に正常に包装されなかったパッケージの数。 -
Idle_Time = statetime(Idle)
- 指定した時間間隔あたりのマシンの合計アイドル時間 (秒単位)。 -
Fault_Time = statetime(Fault)
- 指定した時間間隔あたりのマシンの合計故障時間 (秒単位)。 -
Stop_Time = statetime(Stop)
- 指定した時間間隔あたりのマシンの計画された停止時間の合計 (秒単位)。 -
Run_Time = statetime(Running)
- 指定した時間間隔あたりのマシンの問題なく実行されている合計時間 (秒単位)。 -
Down_Time = Idle_Time + Fault_Time + Stop_Time
指定された時間間隔でのマシンの合計ダウンタイム (秒単位)。 以外のマシン状態の合計としてコンピューティングされます。Run_Time
-
Availability = Run_Time / (Run_Time + Down_Time)
- 指定された時間間隔のマシンの稼働時間またはマシンが動作できるようスケジュールされた時間の割合。 -
Quality = Successes / (Successes + Failures)
- 指定した時間間隔に正常に包装されたパッケージのマシンの割合。 -
Performance = ((Successes + Failures) / Run_Time) /
- 指定された時間間隔でのマシンのパフォーマンスを、プロセスの理想的な実行レート (秒単位) からのパーセンテージで示します。Ideal_Run_Rate
たとえば、
Ideal_Run_Rate
が 1 分あたり 60 個のパッケージ (1 秒あたり 1 個のパッケージ) であるとします。Ideal_Run_Rate
が 1 分単位または 1 時間単位の場合、Run_Time
は秒単位であるため適切な単位変換係数で割る必要があります。 -
OEE = Availability * Quality * Performance
- 指定された時間間隔における機械の全体的な設備効率。この式は、1 から分数OEEとして計算されます。
注記
OEE が変換として定義されている場合、出力値は入力値ごとに計算されます。変換評価では、式内のすべての寄与プロパティで使用可能な最新の値が考慮されるため、予期しない値を生成する可能性があります。同じタイムスタンプのプロパティ更新の場合、出力値は他の受信プロパティの更新によって上書きされる可能性があります。例えば、可用性、品質、パフォーマンスが計算されると、 OEEは他の 2 つのプロパティで最後に利用可能なデータポイントで計算されます。これらの寄与値はタイムスタンプを共有し、 の誤った出力値を引き起こしますOEE。変換計算の順序は保証されません。